
基于经典基片弯曲法Stoney公式测量原理,采用先进的激光扫描方式和探测技术,以及智能化的操作,使得FST5000薄膜应力仪特别适合于晶圆类光电薄膜样品的弓高、翘曲、轮廓形貌、曲率半径和薄膜应力测量和计算。
双波长扫描!
全自动测量!
高性价比!
规格 | 参数 |
基本原理 | 激光曲率法 基于Stoney公式 |
主要方法 | 采用双波长激光对样品进行扫描测量 635nm/670nm波长/>5mW |
主要功能 | 自动测量晶圆样品轮廓形貌、弓高、翘曲度、曲率半径和薄膜应 力 |
薄膜应力测试范 围 | 1~10000MPa |
曲率半径测试范 围 | 2-20000m |
曲率半径重复精 度 | <1%1o(曲率半径<20m) <2.5%1o(曲率半径<200m) |
扫描最小步长 | 0.1mm |
样品尺寸 | 子型号M6-标配更大6英寸,向下兼容4、3、2英寸 |
样品台 | 电动旋转平台 |
样品基片校正 | 可数据处理校正原始表面不平影响(对减模式) |
电源 | 110-220VAC&200WattsMaximum |
通讯连接端口 | USB3.0 |
工作温度 | 室温 |
操作软件 | 可视化2D/3D显示晶圆轮廓形貌、弓高、翘曲曲率半径和薄膜应力分布 视窗界面/适用于Windows10系统 |
操作电脑 | 标配品牌台式一体机: 显示器:>21英寸,>8G内存,CPU>25GHz,>512G硬盘 |
外形尺寸 | ~850宽x550深x450高mm |
重量 | ~35Kg |
质量保证 | 一年免费/终身维护 |
备注 | 以上所列技术规格与参数更新恕不另行通知,如有疑问请联系我 们 |
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