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WPA/PA系列[位相差][双折射][内部翘曲]测量设备



WPA/PA系列是Photonic Lattice公司以其特有的光子晶体制造技术开发的产品,独特的测量技术、高速而又精准确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量,全面掌握应力分布。可测数千nm高相位差分布的机型,最适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果,二维图表可以更直观的读取数据。

广泛运用于玻璃,显示组件,注塑塑料件,拉伸纤维,光纤器件,微影手提袋,镜片毛坯,镜片,硅片,矿产,激光晶体,液态晶体,双折射晶体等产品。

规格参数:

PA-300×L

低位相差用

超大型号

PA-300L

低位相差用

大型号

PA-300

低位相差用

标准型号

PA-300-MT

低位相差用

可分离型

PA-micro

低位相差用

显微镜型

PA-micro-S

链接显微镜

用相机型

位相差[nm]※1、位相差轴方位[°]※1 由选配功能可进行应力换算[MPa]

σ<1nm

保证外

520nm

0~130nm

保证外

约500万像素(数据读出点数:2056×2464)

■242×290mm~360×480mm

■40×48mm~240×320mm

○7×8.4mm~23×28mm

■27×36mm~99×132mm

○7×8.4mm~23×28mm

■33×40mm(标准配置时)

※分离型取决于所选配置

○6.3×7.5mm~17.5×21mm

■142×170μm~3.5×4.2mm

[×2、×5、×10、×20、×50]

根据装配显微镜

650×650×1910mm

46kg

430×487×1142mm

23kg

270×337×631mm

12kg

160×190×305mm

5kg

270×485×649mm

21kg

60×70×85mm

0.5kg

本体(PA-Micro包含显微镜、PA-Micro-S不包含显微镜)、操作电脑、软件(PA-View)、使用说明书

×不可.

×不可.

×不可.

×不可.

×不可.

×不可.

●可选配

●可选配

●可选配

●可选配

●可选配

●可选配

●可选配

●可选配

●可选配

-标准配置

●可选配

●可选配

×不可

●可选配

●可选配

●可选配

×不可

×不可

●可选配

●可选配

●可选配

●可选配

●可选配

●可选配

●可选配

●可选配

●可选配

●可选配

●可选配

●可选配

×不可.

×不可.

×不可.

×不可.

×不可.

×不可.

注:本表按原图横向机型排列还原,合并行为各机型共通内容;表下选配行为各机型对应取值(●可选配、×不可、-标准配置),原图未标注各行的项目名称。


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